把OTSUKA大冢电子给了RETS-100nx这个型号的迟滞测量装置。它能把高精度测量给做到了极致，主要是靠独特的多波长光谱仪。这光谱仪有多厉害？能拿到大约500个波长的透射率信息，这可比别的公司多得多，直接就是他们的50倍。测量范围也广，延迟能从0测到60,000纳米。想要了解那种很复杂的波长色散形状？没问题。哪怕是超双折射薄膜这种难搞的东西，它都能快速且精准地搞定。 这个机器不光能测薄膜叠起来的多层结构，而且不用把层给剥掉就能无损测出来。哪怕是样品没放正也不怕，它有轴角校正功能，就算样品歪了也能轻松反复测量。你可以把样品挪来挪去10次，再对比一下有没有用这个功能的结果。像R85缓释膜这种材料都试过了。 操作起来很方便，软件能帮你大大缩短测量和处理的时间。看看规格就知道了，RETS-100nx能测胶片、光学材料、偏光片和液晶盒里的好多东西。比如延迟和慢轴还有Rth*1，还有三维折射率*1等等。延迟测量范围是0到60,000纳米。重复性也不错，3σ不超过0.08纳米。电池间隙能测到600微米，重复性在3σ里是0.005微米。轴的检测重复性也很稳。 波长范围在400到800纳米之间，探测器是多通道光谱仪。测量直径是φ2毫米。光源是100瓦的卤素灯。数据处理部分用的是个人电脑和显示器。舞台尺寸是标准的100mm乘100mm。 如果你还想额外升级点什么功能？像超高延迟测量、多层测量、轴角校正这些都有选项。还有自动XY平台或者自动倾斜旋转平台*1都可以选。